SULJE VALIKKO

avaa valikko

Martin Hÿtch | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Advances in Imaging and Electron Physics - Computer Techniques for Image Processing in Electron Microscopy
Martin Hÿtch (toim.); Peter W. Hawkes (toim.)
Elsevier Science Publishing Co Inc (2020)
Kovakantinen kirja
202,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Martin Hÿtch (toim.); Peter W. Hawkes (toim.)
Elsevier Science Publishing Co Inc (2020)
Kovakantinen kirja
202,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Morphological Image Operators
Martin Hÿtch (toim.); Peter W. Hawkes (toim.)
Elsevier Science Publishing Co Inc (2020)
Kovakantinen kirja
202,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Aberration Theory in Electron and Ion Optics
Peter W. Hawkes; Martin Hÿtch
Elsevier Science Publishing Co Inc (2023)
Kovakantinen kirja
192,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Coherent Electron Microscopy: Designing Faster and Brighter Electron Sources
Peter W. Hawkes; Martin Hÿtch
Elsevier Science Publishing Co Inc (2023)
Kovakantinen kirja
192,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes; Martin Hÿtch
Elsevier Science Publishing Co Inc (2023)
Kovakantinen kirja
192,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes (toim.); Martin Hÿtch (toim.)
Elsevier Science Publishing Co Inc (2024)
Kovakantinen kirja
192,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanolithography and Surface Microscopy with Electron Beams
Peter W. Hawkes (toim.); Martin Hÿtch (toim.)
Elsevier Science Publishing Co Inc (2024)
Kovakantinen kirja
192,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1
Peter W. Hawkes (toim.); Martin Hÿtch (toim.)
Elsevier Science Publishing Co Inc (2024)
Kovakantinen kirja
251,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2
Peter W. Hawkes (toim.); Martin Hÿtch (toim.)
Elsevier Science Publishing Co Inc (2025)
Kovakantinen kirja
192,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics - Computer Techniques for Image Processing in Electron Microscopy
202,60 €
Elsevier Science Publishing Co Inc
Sivumäärä: 328 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2020, 22.05.2020 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Computer Techniques for Image Processing in Electron Microscopy, Volume 214 in the Advances in Imaging and Electron Physics series, presents the latest advances in the field, with this new volume covering Image Formation Theory, The Discrete Fourier Transform, Analytic Images, The Image and Diffraction Plane Problem: Uniqueness, The Image and Diffraction Plane Problem: Numerical Methods, The Image and Diffraction Plane Problem: Computational Trials, Alternative Data for the Phase Determination, The Hardware of Digital Image Handling, Basic Software or Digital Image Handling, Improc, and much more.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in Imaging and Electron Physics - Computer Techniques for Image Processing in Electron Microscopy
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780128209998
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste