Tekninen ongelma myymäläsaldoissa... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Eun Young Mun | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

Log-Linear Modeling

LOG-LINEAR MODELING

Tekijä: Alexander von Eye; Eun-Young Mun
Kustantaja: Wiley-Blackwell (2013)
Saatavuus: Ei tiedossa

EUR 128,40

Analyzing Rater Agreement - Manifest Variable Methods

ANALYZING RATER AGREEMENT - MANIFEST VARIABLE METHODS

Tekijä: Alexander von Eye; Eun Young Mun
Kustantaja: Taylor & Francis Inc (2004)
Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa

EUR 151,50

Analyzing Rater Agreement - Manifest Variable Methods

ANALYZING RATER AGREEMENT - MANIFEST VARIABLE METHODS

Tekijä: Alexander von Eye; Eun Young Mun
Kustantaja: Taylor & Francis Inc (2006)
Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa

EUR 50,80

Advances in Configural Frequency Analysis

ADVANCES IN CONFIGURAL FREQUENCY ANALYSIS

Tekijä: Alexander von Eye; Patrick Mair; Eun-Young Mun
Kustantaja: Guilford Publications (2010)
Saatavuus: Ei tiedossa

EUR 62,90

Log-Linear Modeling - Concepts, Interpretation, and Application

LOG-LINEAR MODELING - CONCEPTS, INTERPRETATION, AND APPLICATION

Tekijä: Alexander Von Eye; Eun Young Mun
Kustantaja: John Wiley & Sons Inc (2012)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 118,10

Log-Linear Modeling

Alexander von Eye, Eun-Young Mun

128,40 €

Wiley-Blackwell
Sivumäärä: 472 sivua
Asu: Muu digitaalinen tallenne
Julkaisuvuosi: 2013, 11.01.2013 (lisätietoa)

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Kirjan painos kustantajalta loppu. Mahdollisesta uudesta painoksesta ei vielä tietoa. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Log-Linear Modeling

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781118391778

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste

Tietosuojaseloste