Ramsey Abbey; Hart; W. H. (William Henry); d.; Lyons; Ponsonby Annesley; Kirk; R. E. G. (Richard Edward Gent) Kniga po trebovaniyu Saatavuus: Tilaustuote
Peter L Biermann; David Fegan; Fuxi Gan; Dieter H Hartmann; Richard E Lingenfelter; Pierre Sokolsky; Todor S Stanev World Scientific Publishing Co Pte Ltd (1994) Saatavuus: Painos loppu Kovakantinen kirja
John Wiley & Sons Inc Sivumäärä: 688 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 2000, 21.11.2000 (lisätietoa) Kieli: Englanti
Unter Musterklassifikation versteht man die Zuordnung eines physikalischen Objektes zu einer von mehreren vordefinierten Kategorien. Auf dieser Grundlage können Computer Muster erkennen. Das Interesse an diesem Forschungsgebiet hat in den letzten Jahren, besonders im Zuge der Weiterentwicklung neuronaler Netze, stark zugenommen. Die umfassend überarbeitete, erweiterte und jetzt zweifarbig gestaltete Neuauflage beschreibt alle wesentlichen Aspekte der Mustererkennung systematisch und verständlich. Mit Lösungsheft! (01/00)
