SULJE VALIKKO

avaa valikko

Bhushan Bharat Bhushan | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 146 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Tribology Issues and Opportunities in MEMS - Proceedings of the NSF/AFOSR/ASME Workshop on Tribology Issues and Opportunities in
Tekijä: Bharat Bhushan
Kustantaja: Springer (1998)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   258,60
Applied Scanning Probe Methods VIII - Scanning Probe Microscopy Techniques
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs; Masahiko Tomitori
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2008)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Applied Scanning Probe Methods IX - Characterization
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs; Masahiko Tomitori
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2008)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Applied Scanning Probe Methods X - Biomimetics and Industrial Applications
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs; Masahiko Tomitori
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2008)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Applied Scanning Probe Methods I
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs; Sumio Hosaka
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2004)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Applied Scanning Probe Methods XI - Scanning Probe Microscopy Techniques
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2008)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Applied Scanning Probe Methods XIII - Biomimetics and Industrial Applications
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2008)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Micro/Nanotribology and Its Applications
Tekijä: Bharat Bhushan
Kustantaja: Springer (1997)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   172,80
Applied Scanning Probe Methods : Volumes I - XIII
Tekijä: Bharat Bhushan (ed.); Harald Fuchs (ed.)
Kustantaja: Springer (2009)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   430,20
Applied Scanning Probe Methods III - Characterization
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2006)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Applied Scanning Probe Methods II - Scanning Probe Microscopy Techniques
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2006)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   129,90
Applied Scanning Probe Methods IV - Industrial Applications
Tekijä: Bharat Bhushan; Harald Fuchs
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2006)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap Between the Macro- and Micro/Nanoscales
Tekijä: Bharat Bhushan (ed.)
Kustantaja: Springer (2001)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   258,60
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
Tekijä: Bharat Bhushan
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2010)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   241,40
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
Tekijä: Bharat Bhushan
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2011)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   172,80
Nanotribology and Nanomechanics I - Measurement Techniques and Nanomechanics
Tekijä: Bharat Bhushan
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2011)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   49,60
Biophysics of Human Hair : Structural, Nanomechanical, and Nanotribological Studies
Tekijä: Bharat Bhushan
Kustantaja: Springer (2010)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques
Tekijä: Bharat Bhushan (ed.); Harald Fuchs (ed.); Masahiko Tomitori (ed.)
Kustantaja: Springer (2010)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   107,50
Applied Scanning Probe Methods VI : Characterization
Tekijä: Bharat Bhushan (ed.); Satoshi Kawata (ed.)
Kustantaja: Springer (2010)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   107,50
Applied Scanning Probe Methods IX : Characterization
Tekijä: Bharat Bhushan (ed.); Harald Fuchs (ed.); Masahiko Tomitori (ed.)
Kustantaja: Springer (2010)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   107,50
    
Tribology Issues and Opportunities in MEMS - Proceedings of the NSF/AFOSR/ASME Workshop on Tribology Issues and Opportunities in
258,60 €
Springer
Sivumäärä: 655 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1998
Julkaisuvuosi: 1998, 30.06.1998 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Micro Electro Mechanical Systems (MEMS) is already about a billion dollars a year industry and is growing rapidly. So far major emphasis has been placed on the fabrication processes for various devices. There are serious issues related to tribology, mechanics, surfacechemistry and materials science in the operationand manufacturingof many MEMS devices and these issues are preventing an even faster commercialization. Very little is understood about tribology and mechanical properties on micro- to nanoscales of the materials used in the construction of MEMS devices. The MEMS community needs to be exposed to the state-of-the-artoftribology and vice versa. Fundamental understanding of friction/stiction, wear and the role of surface contamination and environmental debris in micro devices is required. There are significantadhesion, friction and wear issues in manufacturing and actual use, facing the MEMS industry. Very little is understood about the tribology of bulk silicon and polysilicon films used in the construction ofthese microdevices. These issues are based on surface phenomenaand cannotbe scaled down linearly and these become increasingly important with the small size of the devices. Continuum theory breaks down in the analyses, e. g. in fluid flow of micro-scale devices. Mechanical properties ofpolysilicon and other films are not well characterized. Roughness optimization can help in tribological improvements. Monolayers of lubricants and other materials need to be developed for ultra-low friction and near zero wear. Hard coatings and ion implantation techniques hold promise.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Tribology Issues and Opportunities in MEMS - Proceedings of the NSF/AFOSR/ASME Workshop on Tribology Issues and Opportunities inzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792350248
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste