SULJE VALIKKO

avaa valikko

A. Christou | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 11 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Electromigration and Electronic Device Degradation
A Christou
Wiley-Blackwell (1994)
Kovakantinen kirja
246,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability of Gallium Arsenide MMIC's (Paper)
A Christou
Wiley-Blackwell (1995)
Pehmeäkantinen kirja
75,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Semiconductor Device Reliability
A. Christou; B.A. Unger
Springer (1989)
Kovakantinen kirja
268,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Risk Assessment and Management in the Context of the Seveso II Directive
Michalis D Christou; Georgios A Papadakis; Christian Kirchsteiger
Elsevier Science & Technology (1998)
Kovakantinen kirja
245,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Semiconductor Device Reliability
A. Christou; B.A. Unger
Springer (2011)
Pehmeäkantinen kirja
268,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Philosophies of Hospitality and Tourism - Giving and Receiving
Prokopis A. Christou
Channel View Publications Ltd (2020)
Pehmeäkantinen kirja
59,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Philosophies of Hospitality and Tourism - Giving and Receiving
Prokopis A. Christou
Channel View Publications Ltd (2020)
Kovakantinen kirja
180,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The History and Evolution of Tourism
Prokopis A Christou
CABI (2022)
Kovakantinen kirja
115,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Corporate And Family Governance
Christos A. Christou
Clink Street Publishing (2022)
Pehmeäkantinen kirja
27,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Artificial Intelligence (AI) in Social Research
Prokopis A Christou
CABI (2025)
Kovakantinen kirja
118,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Surface/Interface and Stress Effects in Electronic Materials Nanostructures: Volume 405
R. C. Cammarata; A. Christou; S. M. Prokes; K. L. Wang
Materials Research Society (1996)
Kovakantinen kirja
31,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Electromigration and Electronic Device Degradation
246,80 €
Wiley-Blackwell
Sivumäärä: 344 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1994, 07.02.1994 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Electromigration and Electronic Device Degradationzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780471584896
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste